|
ºÏ¹ÌÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ÀÚµ¿°Ë»çÀåºñ(ATE:Automatic Test Equipment) ½ÃÀå¿¡ ´ëÇØ »ó¼¼È÷ ºÐ¼®ÇÏ¿© ÀüÇØµå¸³´Ï´Ù.
2. ºÏ¹ÌÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ATE ½ÃÀå ºÐ¼®
- ½ÃÀå °³¿ä
- ½ÃÀå °³¿ä ¹× Á¤ÀÇ
- ½ÃÀå ¿£Áö´Ï¾î¸µ Æò°¡
- »ê¾÷ °úÁ¦
- ½ÃÀå ¹ßÀü ¿äÀÎ
- ½ÃÀå ¹ßÀü ÀúÇØ ¿äÀÎ
- ½ÃÀå ºÐ¼®
- ¼öÀÍ ¿¹Ãø
- ½ÃÀå µ¿Çâ
- ÃÖÁ¾¼ö¿äÀÚ ºÐ¼®
- °æÇÕ ºÐ¼®
- °æÇÕ ±¸Á¶
- ½ÃÀå Á¡À¯À² ºÐ¼®
3. ¸®´Ï¾î(Linear)/È¥ÇÕ½ÅÈ£(Mixed Signal)/·ÎÁ÷(Logic)/SoC(ºñ¸Þ¸ð¸®) ATE ½ÃÀå ºÐ¼®
- ½ÃÀå °³¿ä
- ½ÃÀå °³¿ä ¹× Á¤ÀÇ
- ½ÃÀå ¿£Áö´Ï¾î¸µ Æò°¡
- ¼öÀÍ ¿¹Ãø
- °æÇÕ ºÐ¼®
4. µð½ºÅ©¸®Æ® ATE ½ÃÀå ºÐ¼®
- ½ÃÀå °³¿ä
- ½ÃÀå °³¿ä ¹× Á¤ÀÇ
- ½ÃÀå ¿£Áö´Ï¾î¸µ Æò°¡
- ¼öÀÍ ¿¹Ãø
5. ¸Þ¸ð¸® ATE ½ÃÀå ºÐ¼®
- ½ÃÀå °³¿ä
- ½ÃÀå °³¿ä ¹× Á¤ÀÇ
- ½ÃÀå ¿£Áö´Ï¾î¸µ Æò°¡
- ¼öÀÍ ¿¹Ãø
- °æÇÕ ºÐ¼®
6. Àüü ½ÃÀå ºÐ¼®
- °á·Ð
- ºÎ·Ï
- ÀÇ»ç°áÁ¤ Áö¿ø µ¥ÀÌÅͺ£À̽º
LSH
|